Search In this Thesis
Search In this Thesis
العنوان
Automatic testing and fault detection for digital and microprocessor circuits
الناشر
Hisham Mostsfs Kamal El Sherif
المؤلف
El Sherif ,Hisham Mostsfs Kamal
هيئة الاعداد
باحث
/ HISHAH HOSTAFA ~AHAL EL SHERIF
مشرف
/ S. HAHROUS
مشرف
/ H. EL HEHNAWY
مشرف
/ R.A. ASFOUR
الموضوع
Digital and Microprocessor circuits
تاريخ النشر
1991
عدد الصفحات
ix,141 p.
اللغة
الإنجليزية
الدرجة
ماجستير
التخصص
الهندسة الكهربائية والالكترونية
تاريخ الإجازة
1/1/1991
مكان الإجازة
جامعة عين شمس - كلية الهندسة - الهندسة الكهربائية
الفهرس
INTRODUCTION
AUTOMATIC TESTING SYSTEM DESCRIPTION
DIGITAL TEST GENERATION AND DESIGN
Only 14 pages are availabe for public view
from
154
from
154
الفهرس 
INTRODUCTION
الفهرس