Search In this Thesis
   Search In this Thesis  
العنوان
Study On The Source Of Errors In X-Ray Profile Analysis Of Metallic Thin Films /
المؤلف
Akl, Alaa Ahmed Saad .
هيئة الاعداد
باحث / علاء احمد سعد عقل
الموضوع
Metallic Thin Films. Metals.
تاريخ النشر
1988.
عدد الصفحات
50 p. :
اللغة
الإنجليزية
الدرجة
ماجستير
التخصص
التصنيف العلمي للمقتنيات
تاريخ الإجازة
1/1/1988
مكان الإجازة
جامعة المنيا - كلية العلوم - قسم الفيزياء
الفهرس
Only 14 pages are availabe for public view

from 112

from 112

Abstract

In actual experiments broad lines are usually observed because of the compined effects of a number of instrumental and physical factors that broaden the pure diffraction line profile the fact of the more fundamental importance is that the shape and breadth of the pure profile are determined by the mean crystallite size and its distribution as well as the mean crystallite size and its distribution prevailing as wellas the crystalline lattice.